解决方案-苏州联讯仪器股份有限公司

用于评估高速信号波形质量的采样示波器需要与数据信号同步的时钟信号触发，在28Gbaud速率及以下速率光模块眼图测量中，虽然行业标准一直推荐采用标准时钟恢复单元（CRU）从信号中提取时钟作为采样示波器的同步触发。但是考虑到成本，大部分光模块用户还沿用原来的驱动光模块的误码仪时钟输出作为采样示波器外部触发。

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突发误码仪在OLT 模块中的应用

在PON系统中，OLT与多个ONU(光网络单元)通过POS(无源光分路器)连接。作为PON的核心，OLT光模块将直接影响整个PON系统的运行。在PON中，OLT下行数据是以广播连续模式发送的，ONU上行数据由多个用户终端按时分多址的方式发送的突发模式数据包组成。

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联讯仪器PAM4示波器助力光通讯

光通信网络及高速接口光芯片、光器件和光收发模块的研发和生产，都需要高性能采样示波器来进行精准的测量和验证。为了确保能准确测试被测的高速光电信号眼图，示波器通常需要具有更高的带宽、更低的幅度噪声以及更低的固有抖动。基于等时采样原理，采样示波器不需要昂贵复杂的超高采样率ADC，而可以采用更高转换位数的ADC，因此克服了成本高、精度差等缺点，更适合超高速光/电接口测试，并已经广泛被各标准规范认定为标准一致性测试仪器。

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SiC（碳化硅）晶圆级老化系统方案

SiC（碳化硅）晶圆级别老化的意义在于通过提前识别和消除潜在失效机制，提高最终器件的可靠性和性能稳定性，同时降低失效率，减少售后维护成本。

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掌握核心技术 | 联讯仪器WAT半导体参数测试系统简介

WAT是Wafer出Fab厂前的最后一道测试工序。WAT测试通常都是利用晶圆切割道上专门设计的测试结构完成的。通过这些测试结构的组合和测试结果的分析，可以监控晶圆制造过程和工序偏差。

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元宇宙（Metaverse）是个啥

提起元宇宙这个词的起源，就不得不提到美国著名科幻作家尼尔·斯蒂芬森（Neal Stephenson），斯蒂芬森在1992年写了一本小说，叫做《雪崩》（Snow Crash）。

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硅光测试 ┃ 联讯仪器助力硅基光芯片测试与测量

联讯仪器推出硅光晶圆测试机sCT9001，具有测试精度高、测试稳定性好以及灵活的可扩展性等优势，适用于实验室验证与量产测试。伴随着5G、大数据、区块链、云计算、物联网以及人工智能等应用市场快速发展，带来了数据流量的爆炸性增长。迫切需要通讯网络具有更高的传输速率，更高的可靠性及更高的性价比。

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车规SiC晶圆级可靠性测试

晶圆可靠性测试在车规级SiC芯片的必要性：根据浴盆曲线理论任何电子元件在生命周期的初期会有一个高故障率，随着时间的推移故障率会明显下降到稳定期。

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快速波长计在可调激光器校准中的应用

可调谐激光器非常重要的测试就是精确波长测量和校准，随着通信通道的不断增加，从最开始的40波到目前最高达到800波，因为每个波长都需要采用波长计对可调激光器进行标定，因此快速精确波长测试比以往任何时候都更为关键。FWM8612 基于斐索干涉仪技术，结合了温度稳态控制干涉仪，多级复合干涉腔及线性阵列CCD探测器。

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