半导体-苏州联讯仪器股份有限公司

SiC（碳化硅）晶圆级老化系统方案
SiC（碳化硅）晶圆级别老化的意义在于通过提前识别和消除潜在失效机制，提高最终器件的可靠性和性能稳定性，同时降低失效率，减少售后维护成本。

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掌握核心技术 | 联讯仪器WAT半导体参数测试系统简介
WAT是Wafer出Fab厂前的最后一道测试工序。WAT测试通常都是利用晶圆切割道上专门设计的测试结构完成的。通过这些测试结构的组合和测试结果的分析，可以监控晶圆制造过程和工序偏差。

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SiC KGD测试分选系统
功率半导体器件是电子装置电能转换与电路控制的核心器件，本质上，是通过利用半导体的单向导电性实现电源开关和电力转换的功能，无论是水电、核电、火电还是风电，甚至各种电池提供的化学电能，大部分无法直接使用，需由功率半导体器件进行功率变换以后才能供设备使用。功率半导体器件可广泛应用于变频、变相、变压、逆变、整流、增幅、开关等场合，能显著降低系统功耗，被广泛应用于电动汽车、通信、消费电子等工业领域。

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