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车规SiC晶圆级可靠性测试
晶圆可靠性测试在车规级SiC芯片的必要性：根据浴盆曲线理论任何电子元件在生命周期的初期会有一个高故障率，随着时间的推移故障率会明显下降到稳定期。
MORE
车规级功率芯片测试的新需求
汽车不同于消费级产品，会运行在户外、高温、高寒、潮湿等苛刻的环境，且设计寿命一般为 15 年或 20 万公里，迭代周期会远高于消费电子的2-3年，对环境、振动、冲击、可靠性和一致性要求也较高，因此车企通常会要求供应商使用车规级元器件，以保证车载ECU产品的质量和可靠性。
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邮箱
sales@semight.com
服务热线
0512-68784483
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