SiC（碳化硅）晶圆级老化系统方案-苏州联讯仪器股份有限公司

SiC（碳化硅）晶圆级别老化的意义在于通过提前识别和消除潜在失效机制，提高最终器件的可靠性和性能稳定性，同时降低失效率，减少售后维护成本。

老化测试有助于在生产过程中发现问题，从而提高生产效率，避免资源浪费。此外，具备高可靠性和稳定性的SiC器件在市场上更具竞争力，能够满足对高性能和高效能电源管理日益增长的需求。

联讯仪器晶圆级老化系统可提供全自动化的SiC WLBI解决方案。具备超高的老化产能；可以根据不同产品的老化需求，设置老化条件；可对每个Die阈值电压(Vth)进行精确测试；系统的每个通道配备了独立的过流保护功能，可确保被测器件的安全；系统可与客户EAP对接，实现生产数据的管理；系统自动生成MAP数据，以便用户进行深入的性能分析和质量控制。

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