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致力于光网络测试、光芯片测试、电性能测试和功率芯片测试四大领域测试仪器和设备的开发,并提供高端测试硬件及软件系统整体解决方案。

光网络测试
光网络测试

光通信网络作为信息通信的基础设施,对我国大数据、云计算、5G通信等市场的快速发展起重要的承载支撑作用,联讯仪器光通讯仪表深度覆盖光模块光器件等核心产品的测试测量,包括采样示波器,误码仪,波长计,光谱仪,流量仪以及通用光测量仪表等,提供经济高效的完整解决方案。

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电性能测试
电性能测试

高精度源表集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身,广泛应用于各类分立元器件,光伏,新能源,电池等行业的高精度测试测量,联讯仪器提供高精度的台式源表及标准PXIe机箱的插卡式PXIe源表模块,充分满足各种不同测试场景的应用。

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光芯片测试
光芯片测试

激光器的老化及测试是保障激光器可靠性的重要方法,通过对CoC或者裸die的测试,提早筛选出激光器生产过程中由于工艺工序的缺陷导致的激光器早期失效。联讯仪器提供从裸die到CoC,从高温到低温-40℃的完整解决方案。联讯仪器的激光芯片老化测试方案已获得市场广泛认可。

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功率芯片测试
功率芯片测试

半导体前道检测主要用于晶圆加工环节,目的是检查每一步制造工艺后晶圆产品的加工参数是否达到设计的要求或者存在影响良率的缺陷,半导体后道测试设备主要是用在晶圆加工之后、封装测试环节内,目的是检查芯片的性能是否符合要求,属于电性能的检测。联讯仪器提供晶圆老化及半导体参数测试机等集成解决方案,打破了国外企业的长期垄断,不断提升国产半导体设备的进口替代率。

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Solution

Solution

解决方案

致力于光网络测试、光芯片测试、电性能测试和功率芯片测试四大领域测试仪器和设备的开发,并提供高端测试硬件及软件系统整体解决方案。

苏州联讯仪器成立于2017年,由一批从事光通信和半导体测试技术研究多年的高级专家创办,致力于光网络测试、光芯片测试、电性能测试和功率芯片测试四大领域测试仪器和设备的开发,并提供高端测试硬件及软件系统整体解决方案。公司可以提供包括宽带采样示波器、高速误码仪、网络流量测试仪、高精度快速波长计、精密数字源表、低泄露矩阵开关等高端测试仪器,以及高速光电混合ATE、半导体激光器CoC老化、裸Die芯片测试、硅光晶圆测试、SiC晶圆老化、SiC裸Die 功率芯片KGD测试分选、WAT晶圆允收测试系统、WLR/PLR可靠性测试系统等高端测试设备。

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    研发人员占比
    注重研发

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    技术创新

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