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激光器老化

BI6201

CoC老化系统


联讯仪器 BI6201 系列老化测试系统是专为半导体激光器芯片老化测试而设计的高密度、多功能老化测试系统。

该系统采用主框架和大单层结构,集成多通道驱动电源、温度控制器和实时数据采集功能,标准化的抽屉和定制化的老化夹具适用于不同尺寸的 CoCChip on Carrier),更换产品后只需更换夹具即可与系统兼容,如果产品需要增加新的功能,比如热敏电阻监控、功率监控就需要更换新的抽屉。


特点


  • 驱动电源

    支持最多4224路4象限驱动电源
  • 导热性强

    热沉温度均匀性偏差≤±1℃(40~100℃)
  • 温度控制能力强

    每个夹具有独立的加热、控温、监控、超温保护和散热单元,更节能
  • 鱼骨型夹具设计

    支持CoC在夹具上打金线
  • 安全可靠性

    驱动板可有效消除对被测芯片造成损害的潜在问题,包括EOS等
  • 在线功率监测

    支持在线功率监控选项配置,LIV或EA扫描,具备Ith分析能力,测试重复性<±1%
  • 4224个CoC同时老化

    产能可根据客户需求进行弹性配置
  • 软件功能丰富

    所有测试结果、状态和异常记录均自动保存至数据库,支持数据存储和结果追溯

功能与优势


  • 特殊的温度控制结构,具有极佳的导热特性

    CoC、CoS 抽屉及夹具

序号

机型名称

产品型号

参数

1

CoC老化系统主机架(包含主机和机架)

P09000049

机架、电脑主机、软件(备注:满配11层)

2

CoC老化系统单层(包含驱动板)

P02004297

- 48通道4象限驱动板

- 开关电源 

- 控温模组

- 617背板

- CDA、N2控制系统

3

老化抽屉

P02004341

- 带前置风扇

- 加热片加风冷控温,温度范围40~120℃

- G4 长夹具,夹具底板厚度1mm

- 抽屉配置双夹具

- DML CoC产能最多96pcs

- EML CoC产能最多48pcs(EA=-2V)

P02000459

- 带前置风扇

- 加热片加风冷控温,温度范围40~150℃

- G4 长夹具,夹具底板厚度1mm

- 抽屉配置双夹具

- DML CoC产能最多96pcs

- EML CoC产能最多48pcs(EA=-2V)

P0200330

- 带前置风扇

- 加热片加风冷控温,温度范围40~120℃

- G4 长宽夹具,底板厚度1mm

- 抽屉配置双夹具

- DML CoC产能最多96pcs

- EML CoC产能最多48pcs(EA=-2V)

P0200235

- 无前置风扇

- 加热片加风冷控温,温度范围40~120℃

- G4 短夹具,底板厚度1mm

- 抽屉配置双夹具

- DML CoC产能最多64pcs

- EML CoC产能最多64pcs(EA并联加电)

FB020003

-32通道夹具+ 2mm夹具抽屉(6种)

FB020231

- 带前置风扇

- 抽屉控温范围40~150℃

- G4 长夹具,底板厚度1mm,压扣结构

- 抽屉EA接地

4

老化夹具(包含上下夹具)

C04000223

- 支持48通道DML CoC 

2mm & 1mm

5

负载板

 

5Ω电阻板


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