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  • 浅析光通速率提升的3个维度
    浅析光通速率提升的3个维度
    2025.02.10
    当前,实现1.6Tbps速率的技术主要采用200Gbps/lane的方案,且未来有望进一步提升。为了探索更高速率的实现路径,我们可以从改进调制方式、提升符号速率以及增加单根光纤中的波长或光纤数量这三个维度进行思考和讨论
  • 联讯课堂 | 2025年功率半导体的五大发展趋势
    联讯课堂 | 2025年功率半导体的五大发展趋势
    2025.01.13
    2024 年功率半导体行业的销售额高达 468 亿美元,与 2023 年相比下降了 8%。展望 2025 年的潜在增长机会,市场面临着一些挑战,包括汽车行业(尤其是电动汽车)的需求低于预期、地缘政治的不确定性加剧了工业应用的低迷,以及消费市场的疲软。更重要的是,目前行业参与者依然保持大规模投资扩充产能的势头,这些挑战对行业来说不容乐观。
  • 智算时代,“芯”启未来—— ICCAD-Expo 2024:联讯仪器半导体测试解决方案备受瞩目
    智算时代,“芯”启未来—— ICCAD-Expo 2024:联讯仪器半导体测试解决方案备受瞩目
    2024.12.13
    2024年12月11日至12日,备受瞩目的ICCAD-Expo 2024大会在上海举行。为期两天的活动吸引了国内外有关专家、学者、行业厂商代表等6000余人,共同见证了中国集成电路产业的最新成果和技术创新。
  • 联讯仪器12月活动集锦:聚焦半导体技术前沿,洞悉海量测试机遇
    联讯仪器12月活动集锦:聚焦半导体技术前沿,洞悉海量测试机遇
    2024.12.07
    12月11日起,联讯仪器将在两大展会——上海ICCAD-Expo与东京SEMICON Japan上,展示3500V高压源表S3030F、台式200V单/双通道精密源表、封装级可靠性测试设备PLR0010、半导体参数测试WAT系列以及PXIe插卡式高精度精密源表等。参展产品作为支撑半导体测试与可靠性评估的利器, 将带给专业观众全新的测试体验。联讯仪器诚邀您莅临展会现场,共同聚焦半导体技术的最新动态,洞悉测试领域的广阔机遇。
  • 联讯仪器高压低漏电开关矩阵RM1013-HV,满足功率半导体参数测试应用!
    联讯仪器高压低漏电开关矩阵RM1013-HV,满足功率半导体参数测试应用!
    2024.11.25
    随着人工智能、新能源汽车、物联网等新兴领域的蓬勃推进,宽禁带半导体材料——尤其是碳化硅(SiC)与氮化镓(GaN)——凭借其卓越性能迎来了迅猛的发展势头。为了深入剖析并精确测量这些先进器件的各项参数及特性,进而提升其效率与可靠性,联讯仪器最新推出了10x24高压低漏电开关矩阵——RM1013-HV,能够在小于300pA的偏置电流满足3000V高压测量,完成各种高精度的半导体表征测试。
  • 联讯仪器DCA1065采样示波器,满足1.6T光模块测试需求!
    联讯仪器DCA1065采样示波器,满足1.6T光模块测试需求!
    2024.11.12
    200Gbps/lane速率提供了更高的通信带宽,并显著降低了功耗,但同时对测试测量带来了巨大的挑战。联讯仪器针对200Gbps/lane的信号,重新设计了新的ASIC,推出了新的宽带采样示波器DCA1065。
  • 产品升级 | DCA6201-30/50GHz,实现更高精度且更优成本的高速光电数字信号的测量
    产品升级 | DCA6201-30/50GHz,实现更高精度且更优成本的高速光电数字信号的测量
    2024.11.02
    联讯仪器 DCA6201 采样示波器基于等时采样及重构眼图技术,从而实现更高精度且更优成本的高速光电数字信号的测量。今年10月,DCA6201在高性能基础上再度升级,波长范围800~1650nm、最大输入5mW(+7dBm)、测量指标精度显著提高,效率优化提升近32%。
  • 展会预告| 联讯仪器10月活动合集,邀您探讨半导体及硅光晶圆测试领域的前沿技术
    展会预告| 联讯仪器10月活动合集,邀您探讨半导体及硅光晶圆测试领域的前沿技术
    2024.10.12
    金秋十月,硕果盈枝,联讯仪器诚挚邀请您光临在深圳、苏州及日本名古屋举办的三大展会。作为测试测量行业的高端仪器设备供应商,我们精心准备了高压源表、硅光晶圆测试系统、晶圆级老化系统等一系列高效、精准的解决方案,期待与您面对面交流,共探行业发展新机遇。
  • 新品发布 | 高速光模块 All In One 测试方案介绍 (二)
    新品发布 | 高速光模块 All In One 测试方案介绍 (二)
    2024.09.26
    联讯仪器800G光模块测试仪是集光口误码分析仪(BERT),三温控制单元为一体的误码综合测试系统,具备误码测试、FEC测试、TEC温控、模块信息监视、CMIS协议项测试、MSA I/O测试等功能
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