登录
简体中文
English
日本語
首页
产品中心
产品中心
光网络测试
采样示波器
时钟恢复
突发误码分析仪
通用误码分析仪
网络测试仪
波长计
通用光仪表
高速光模块测试机
电性能测试
标准台式源表
PXle插卡式源表
高压源表
低漏电开关矩阵
半导体参数测试
脉冲源
晶圆级可靠性
光芯片测试
激光器测试
激光器老化
硅光晶圆测试
功率芯片测试
晶圆级老化
功率芯片测试
目检分选
解决方案
解决方案
数据中心
电信网络
新能源
半导体
硅光子
元宇宙
支持中心
支持中心
售后服务
常见问题
新闻中心
新闻中心
公司新闻
展会信息
关于联讯
关于联讯
公司简介
发展历程
社会责任
企业文化
荣誉资质
合规声明
加入我们
人才招聘
联系我们
联系我们
联系方式
在线留言
请输入搜索关键词!
搜索
Site Map
网站地图
网站首页
产品中心
光网络测试
电性能测试
光芯片测试
功率芯片测试
解决方案
数据中心
电信网络
新能源
半导体
硅光子
元宇宙
支持中心
售后服务
常见问题
新闻中心
公司新闻
展会信息
关于联讯
公司简介
发展历程
社会责任
企业文化
荣誉资质
合规声明
加入我们
联系我们
联系方式
在线留言
首页
产品中心
光网络测试
电性能测试
光芯片测试
功率芯片测试
解决方案
数据中心
电信网络
新能源
半导体
硅光子
元宇宙
支持中心
售后服务
常见问题
新闻中心
公司新闻
展会信息
关于联讯
公司简介
发展历程
社会责任
企业文化
荣誉资质
合规声明
加入我们
联系我们
联系方式
在线留言
English
日文
产品升级 | 56Gbaud CR6256!400G/800G单多模光模块及接口的时钟提取
发布日期:2024.08.10
访问量:501
53.125 Gbaud信号时钟提取后眼图(TDECQ=1.51 dB)
上一条
新品发布 | rBT3250-50G突发误码分析仪,支持突发和连续模式信号输出及误码测试
下一条
发布日期:2024.09.02
新品发布 | 高速光模块 All In One 测试方案介绍 (一)
推荐新闻
全部
产品升级 | DCA6201-30/50GHz,实现更高精度且更优成本的高速光电数字信号的测量
2024.11.02
展会预告| 联讯仪器10月活动合集,邀您探讨半导体及硅光晶圆测试领域的前沿技术
2024.10.12
新品发布 | 高速光模块 All In One 测试方案介绍 (二)
2024.09.26
邮箱
sales@semight.com
服务热线
0512-68784483
关注
返回顶部
×
登录后
立即下载!
邮箱地址
验证码
立即登录
登录后
立即下载!
账号
密码
立即登录
忘记密码
注册账号
注册账号
姓名
请输入您的姓名
*
邮箱地址
请输入您的邮箱地址
*
邮箱验证码
请输入您的邮箱验证码
获取验证码
电话
请输入您的联系电话
*
密码
请输入您的登录密码
*
确认密码
请再次输入您的登录密码
*
立即注册
找回密码
邮箱地址
请输入您的邮箱号
*
邮箱验证码
请输入您的邮箱验证码
获取验证码
新密码
请输入您的登录密码
*
确认密码
请再次输入您的登录密码
*
提交