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新品发布 | rBT3250-50G突发误码分析仪,支持突发和连续模式信号输出及误码测试
发布日期:2024.07.26 访问量:544



50G突发误码分析仪


rBT3250是专门针对下一代25G/50G无源光网络(PON)应用的光线路终端(OLT)测试新型突发误码分析仪,用于评估突发模式下的25G50G OLT接收机性能。


rBT3250提供2个独立的突发码型发生器和误码探测器通道,支持连续模式或突发模式误码分析,具有两路突发时分码型序列产生和误码分析能力,码型时序灵活可调。并针对器件测试需求,给相应测试通道提供同步的激光器使能、复位信号等低速控制通道。产品内置时钟恢复,可以自动测距,轻松应对长纤测试。




50GPON模块测试



 (a)


(b)



 如图a所示,搭建50G PON 突发测试环境,主要由两个ONU模块和一个OLT模块组成。突发误码测试仪两个突发通道PPG时分交替发送具备突发帧结构的数据(preamble & Data)及激光器使能信号(enable),使两个ONU模块交替发送突发数据,分别经过衰减器,模拟不同长度光纤上的功率衰减,经过分光路器合成一路光,接入OLT模块。突发误码测试仪EDOLT发送reset信号并接收突发数据,进行两路突发误码比较。

       
如图b所示,在双突发测试过程中,突发误码测试仪通过配置两个突发通道的突发帧长度(preamble & Data),以及衰减器的衰减量,可以充分检测OLT模块在接收不同光功率,不同突发数据长度时的性能。



产品优势


01,支持突发和连续模式信号输出及误码测试

支持2路突发时序可配置的码型发生器通道和2路突发误码测试通道


02,突发模式支持速率

24.8832Gbps25.78125Gbps49.7664Gbps51.5625Gbps


03,支持2路同步的ONU激光器使能控制通道误码测试通道

控制电平是LVTTL 3.3V不需外接电平转换。


04,支持2路双复位控制通道

复位位置可调,复位宽度可调



主要应用


0150G PON OLT模块研发及生产测试


02,突发线性TIA芯片测试

需要验证突发信号情况下TIA(跨阻放大器)的器件的工作状态


03,对码型时序有特殊要求的一些场合


04,多通道信号输出,多路信号码型同步、时延同步


05SDI码型或者成帧信号产生及误码探测



技术指标


码型发生指标

 

输出

差分交流耦合,100Ω±10%

输出幅度

差分,100-600mVp-p

输出通道

突发通道(50Gbps NRZ

连续通道(50Gbps NRZ/PAM4)

支持码型

支持:PRBS7152331SSPR,自定义码型及CID码型

上升时间

20%~80%

<12ps

抖动(RMS

<0.9ps

码型序列

支持前导码、保护时间及负荷时序信号的产生及编辑

CID 码型

长度64-128 bits 可调

时钟输出

1/21/41/81/16分频时钟输出

连接器类型

2.4mm  female,50Ω

RSSI 触发输出

支持RSSI触发信号脉冲宽度、重复周期、位置可调

误码探测器指标

输入类型

差分交流耦合,100Ω±10%

幅度

100~800mVpp

灵敏度

100mV

时钟模式

内置时钟恢复

连接器

2.4mm female,50Ω










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