请输入搜索关键词!

Site Map

网站地图
联讯仪器 | CoC全自动测试系统CT6201
发布日期:2022.12.07 访问量:1659

半导体激光器通常根据老化前(Pre-Burn In)及老化后(Post Burn-In)测量的一个或多个关键运行参数的变化进行筛选,剔除早期失效,提高产品可靠性,这些参数通常包括阈值电流,在特定工作条件下的输出光功率,达到特定输出光功率所需要的电流,斜线效率以及光谱特性等等。


  联讯仪器CoC测试



联讯仪器全自动CoC测试系统CT6201 ,与联讯仪器 BI6201老化系统共用夹具,降低了被测芯片上下料的流程,同时也消除了上下料过程中EOS/ESD潜在风险以及CoC产品外观不良的引入。


专利光功率耦合系统设计,确保了光学耦合和光谱测量的快速性和重复性。


特有的双测试载台设计,每个载台可以独立温控,节省升降温等待的时间,配合 CoC 夹具双侧并行测试,大大提高了测试效率。  


产品特点及优势

1测试效率高

双测试载台设计

每个载台可以独立温控

同时支持双侧并行测试

自动对比老化前后参数变化量,并给出判定



2测试速度快

每个CoC(DFB)测试时间<7s

快速升降温


3 特殊夹具设计

上下夹具设计,

老化测试过程中上下不分离,

避免多次压接,提高上电通电率

  全自动测试,调高测试效率,

避免人工取放夹具引入的外力损伤

  测试夹具与自动上下料系统AL6201/

老化系统BI6201共用

  无EOS产生



4联讯自研高精度源表

I/V 源分辨率,10fA/100nV

I/V 测量分辨率,10fA/100nV

支持直流或者脉冲电源驱动激光器


5专利设计光耦合系统

确保了光学耦合和光谱测量的快速性和重复性


6测试重复性高

阈值电流重复性<±0.5%;

功率重复性<±1%

波长重复性<±0.05nm;SMSR重复性 <5dB


7规模化应用



联讯CoC老化测试解决方案


联讯仪器提供CoC/CoS上下料,测试以及老化完整解决方案,适配不同测试温度要求,不同尺寸,不同类型半导体激光器,极大地提高了测试效率,降低了测试成本!



登录后 立即下载!

账号

密码

注册账号 立即下载!

姓名

请输入您的姓名 *

邮箱地址

请输入您的邮箱地址 *

邮箱验证码

请输入您的邮箱验证码

电话

请输入您的联系电话 *

密码

请输入您的登录密码 *

确认密码

请再次输入您的登录密码 *
找回密码

邮箱地址

请输入您的邮箱号 *

邮箱验证码

请输入您的邮箱验证码

新密码

请输入您的登录密码 *

确认密码

请再次输入您的登录密码 *