单模衰减器-苏州联讯仪器股份有限公司

通用光仪表

AT430X

单模光衰减器

AT430X系列单模衰减器是一种用于光收发器和网络集成测试的设备，可在0-40dB范围内任意调节衰减，集成输入输出光功率监控，可在调节衰减过程中实时监控功率的变化，进一步提高测试效率。设备支持USB和LAN通讯接口，提供指令集及可调用动态链接库，方便开发自动化测试系统。

联讯仪器AT430X系列衰减器支持衰减模式和功率控制模式，支持开环闭环模式切换。

手册CN

手册EN

申请样机

特点

功率监控功能
支持输入输出功率监控，监控功率范围:+10~-50 dBm
并行测试
支持多通道并行测量，提高测试效率
功率锁定
支持衰减模式和功率控制模式，在功率控制模式下自动保持输出功率恒定
友好的用户界面
易于使用和直观的图形用户界面

带功率监控	1,2,4,8 通道可选
连接器类型	FC/UPC or FC/APC
光电探测器尺寸	9/125 μm
波长	1250~1650 nm
校准波长	1270/1290/1310/1330/1490/1550 nm
可调范围	0~40 dB
步进	0.1 dB
精确度	±0.2 dB
重复性	<0.1 dB
插损	≤1.2 dB
功率监控范围	+10~-50 dBm
功率显示的准确性	3%
回波损耗	45 dB
最大安全输入功率	+23 dBm
LCD 尺寸	3.5-inch TFT
连接方式	LAN, USB

文档下载

名称

版本

发布时间

下载

Democode

名称

版本

发布时间

下载

同类推荐

光网络测试

光通信网络作为信息通信的基础设施，对我国大数据、云计算、5G通信等市场的快速发展起重要的承载支撑作用，联讯仪器光通讯仪表深度覆盖光模块光器件等核心产品的测试测量，包括采样示波器，误码仪，波长计，光谱仪，流量仪以及通用光测量仪表等，提供经济高效的完整解决方案。

Details

电性能测试

高精度源表集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛应用于各类分立元器件，光伏，新能源，电池等行业的高精度测试测量，联讯仪器提供高精度的台式源表及标准PXIe机箱的插卡式PXIe源表模块，充分满足各种不同测试场景的应用。

Details

光芯片测试

激光器的老化及测试是保障激光器可靠性的重要方法，通过对CoC或者裸Die的测试，提早筛选出激光器生产过程中由于工艺工序的缺陷导致的早期失效产品。联讯仪器提供从裸Die到CoC，从高温到低温-40℃的完整解决方案。联讯仪器的激光芯片老化测试方案已获得市场广泛认可。

Details

功率芯片测试

半导体前道检测主要用于晶圆加工环节，目的是检查每一步制造工艺后晶圆产品的加工参数是否达到设计的要求或者存在影响良率的缺陷，半导体后道测试设备主要是用在晶圆加工之后、封装测试环节内，目的是检查芯片的性能是否符合要求，属于电性能的检测。联讯仪器提供晶圆老化及半导体参数测试机等集成解决方案，打破了国外企业的长期垄断，不断提升国产半导体设备的进口替代率。

Details

Site Map