特点
应用灵活:速率范围宽,性能优异
速率支持范围:24.33~58Gbaud测试功能丰富
涵盖模块协议,误码分析,及FEC纠错分析综合成本低
配件/选件丰富;耗材维护成本低;MCB耗材可独立更换效率高,一站式解决
集成TEC温循件,实现低成本化的快速高效的三温测试充分匹配ATE应用场景
强大灵活的数据库管理功能,协助研发深度分析数据;支持丰富测试码型
PRBS7~31Q;SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/方波/自定义码型等功能与优势
多主机并行程控,更灵活的ATE多线程任务处理
支持不同类型的模块混合并行测试,支持测试OSFP/QSFP-DD/QSFP112/QSFP56 模块科学设计——双面TEC+水冷机实现更强悍的温循效率
升降温时间: ~2 min集成光口误码分析仪(BERT),MCB,以及TEC温循控制单元
可应用于400G/800G光模块在高低温环境下的误码性能及眼图质量测试耗材维护——方便、经济
主板/MCB分体设计 - 模块插拔寿命到限后,只需单独拆下MCB更换产品规格
800G光模块测试系统 |
||
产品型号 |
模块种类 |
并行测试数量 |
MTP8104 |
400G/800G OSFP |
4 |
400G/800G QSFP_DD |
4 |
发射机指标
参数名称 |
参数类型 |
指标 |
码型发生器指标 |
输出类型 |
差分/单端PAM4/NRZ |
模块端口数 |
4 |
|
终端 |
交流耦合 |
|
输出阻抗 |
100 Ω ± 10% |
|
数据码型 |
PRBS 7/9/11/13/15/16/23/31, PRBS7~31Q; SSPRQ,JP03A,JP03B,LIN,方波,自定义码型等; |
|
符号速率 [1] (Gbaud) |
24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/ |
|
频率精度 |
±50 ppm (typical) |
|
输出幅度(差分) |
750 mVp-p (typical) [2] |
|
上升时间 [3] (20–80%) |
<10 ps (typical) |
|
下降时间 [3] (20–80%) |
<10 ps (typical) |
|
随机抖动 [4] (Random Jitter) |
<350 fs (typical) |
|
|
输出幅度 |
>300 mVp-p |
输出类型 |
交流耦合,单端 |
|
分频比 (可以设置) |
4/8/16/32/64/128 |
|
触发输出 |
支持RF开关切换时钟输出 |
[1]可增配选件,支持48G以下更多扩展速率
[2]发射端净测量值,默认预加重/去加重参数
[3]以53.125 Gbps NRZ信号测量
[4]抖动分离后测量随机抖动
接收机指标
参数名称 |
参数类型 |
指标 |
误码探测器指标 |
输入类型 |
差分 PAM4 /NRZ |
终端 |
AC-交流耦合 |
|
输入阻抗 |
100 Ω ±10% |
|
接收幅度(差分) [1] |
150 ~ 750 mVp-p (typical) |
|
接收灵敏度(差分) [1] |
150 mVp-p (typical) |
|
数据码型 |
PRBS 7/9/11/13/15/16/23/31,PRBS7~31Q; |
|
符号速率(Gbaud) [2] |
24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/ |
|
时钟模式 |
内置时钟恢复 |
|
同步类型 |
自动同步(电平/相位) |
[1]模块测量值过高电压输入可能会损伤接收机
[2]可增配选件,支持48G以下扩展速率
模块测试指标
参数名称 |
参数类型 |
指标 |
温循指标 [1] [2] |
控温方式 |
接触式TEC控温 |
升降温范围 |
-5 ~+85 ℃ [3] |
|
稳定性 |
±1 ℃ [4] |
|
控温精度 |
±0.1 ℃ |
|
光模块拉偏测试指标 |
输出范围 |
3.069~3.5 V |
步进精度 |
1 mV |
[1]升降温效率会因现场环境温度, 不同模块功耗及热源位置差异, 水冷机功率等因素而有所浮动
[2]长期低温使用会产生冷凝,应对测试腔体进行干燥空气流循环,并定期升高温进行烘干操作
[3]测试环境:
室温25℃,15W模块置于密闭空间中,减少与外界热交换;以模块上报DMI温度为反馈
[4]设置温度和待测件壳体温度的多次重复测量温差
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