请输入搜索关键词!

Site Map

网站地图

高速光模块测试机

MTP4104

400G 光模块测试仪


MTP4104 是集光口误码分析仪(BERT)、三温控制单元为一体的误码综合测试系统。无需电缆连接并通过环境温度设置,实现不同温度环境下高速光模块的误码测试,如400G QSFP-DD PAM4光模块,以及更多100G以下光模块,如SFP28(四路并行),QSFP28 (两路并行)等;集成式MCB测试卡,无需额外的高速射频线缆, 实现灵活快捷的DUT插拔式测试;集成式标准光源插口,省去额外的误码仪设备及MCB,进一步减少测试台空间和成本;通过更换MCB测试卡以及配套测试夹具,可实现不同封装种类的光模块测试,主要包括400G/200G QSFP_DD,100G QSFP28,SFP+28G等。




特点

  • 独立配置

    NRZ或PAM4信号制式
  • 多速率

    20~30 Gbaud
  • FEC分析

    支持FEC仿真测试分析
  • 码型丰富

    SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/方波/自定义码型等
  • 分频输出

    触发信号支持分频输出(4~128分频)
  • 高性能

    快速上升下降沿、低固有抖动
  • 高功率

    支持高功率模式的发射端输出
  • 强大数据分析功能

    灵活的数据库管理功能, 协助研发深度分析数据

功能与优势

  • MTP4104

400G光模块测试仪 规格型号
产品名称 产品型号 模块种类 测试数量


400G光模块测试头


MTP4104

SFP28 16
100G QSFP28 8
200G QSFP56 4
400G QSFP_DD 4


技术指标











码型发生器指标

输出类型 差分/单端/PAM4/NRZ


输出通道数

4 Slots x 8 Lanes

终端 交流耦合
输出阻抗 100 Ω


数据码型

PRBS 7/9/11/13/15/16/23/31,PRBS7~31Q;
SSPRQ,JP03A,JP03B,LIN,方波,自定义码型等;
符号速率 (Gbaud) 20.625/24.33/25/25.78125/26.5625/27.89/
27.95/28.05/28.125/28.2/28.9/30;


频率精度(典型值)

输出幅度(差分)
±50 ppm
750 mVp-p
1200 mVp-p
上升时间(20–80%) <15 ps
下降时间(20–80%) <15 ps
随机抖动 (Random Jitter) <350 fs

① 可根据需求情况,定制支持更多扩展速率;
② 发射端净测量值,默认预加重/去加重参数;
③ 发射端净测量值,高功率输出模式;
④ 以26.5625 Gbps NRZ信号测量;
⑤ 抖动分离后测量随机抖动;





触发输出指标

输出幅度 >300 mVp-p
输出类型 交流耦合,单端
分频比(可以设置) 4/8/16/32/64/128
触发输出 支持RF开关切换A/B各4组触发切换









误码探测器指标

输入类型 差分 PAM4 /NRZ
终端 AC-交流耦合
输入阻抗 100 Ω
接收幅度(差分) 100 ~1200 mVp-p
接收灵敏度(差分) 100 mVp-p
数据码型 PRBS 7/9/11/13/15/16/23/31,PRBS7~31Q



符号速率(Gbaud)

20.625/ 24.33/25/
25.78125/26.5625/27.89/27.95/
28.05/28.125/28.2/28.9/
30
时钟模式 内置时钟恢复
同步类型 自动同步(电平/相位)







温度控制指标

控温方式 接触式TEC控温
升降温范围

TEC设置温度 (-10~+85 ℃)

模块上报温度(-5~+85 ℃)

稳定性 ±1 ℃
控温精度 ±0.1 ℃


升降温效率

1)取决于使用现场温度环境;
2)待测模块种类;
3)水冷机冷量功率⑤⑥

① 接收端净测量值;
② 可根据需求情况,定制支持更多扩展速率;
③ 测试条件,设备环境温度为25℃,模块置于密闭空间中,减少与外界热交换;

④ 不同模块功耗差异较大,升降温效率也有差异;
⑤ 可根据客户现场使用需求推荐选择合适冷量功率的冷水机,达到目标升降温度效率;⑥ 长期低温使用会产生冷凝,应通干燥空气对测试腔体进行干燥,并定期升高温进行烘干操作;



光模块电压调制(拉偏测试)

输出范围 3.069~3.5 V






通用指标

环境 在室温环境中使用
工作温度及湿度 0 至 +55 ℃,30%至80%相对湿度无冷凝
储存温度及湿度 -30 至 60 ℃,10%至90%相对湿度无冷凝


电源

【MTP4104】:

电压范围:100-240 VAC,频率范围:50/60 Hz, 

最大功率:1600 W,保险丝规格:F10AL 250 VAC



同类推荐

光网络测试
光网络测试

光通信网络作为信息通信的基础设施,对我国大数据、云计算、5G通信等市场的快速发展起重要的承载支撑作用,联讯仪器光通讯仪表深度覆盖光模块光器件等核心产品的测试测量,包括采样示波器,误码仪,波长计,光谱仪,流量仪以及通用光测量仪表等,提供经济高效的完整解决方案。

Details
电性能测试
电性能测试

高精度源表集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身,广泛应用于各类分立元器件,光伏,新能源,电池等行业的高精度测试测量,联讯仪器提供高精度的台式源表及标准PXIe机箱的插卡式PXIe源表模块,充分满足各种不同测试场景的应用。

Details
光芯片测试
光芯片测试

激光器的老化及测试是保障激光器可靠性的重要方法,通过对COC或者裸die的测试,提早筛选出激光器生产过程中由于工艺工序的缺陷导致的激光器早期失效。联讯仪器提供从裸die到COC,从高温到低温-40℃的完整解决方案。联讯仪器的激光芯片老化测试方案已获得市场广泛认可。

Details
功率芯片测试
功率芯片测试

半导体前道检测主要用于晶圆加工环节,目的是检查每一步制造工艺后晶圆产品的加工参数是否达到设计的要求或者存在影响良率的缺陷,半导体后道测试设备主要是用在晶圆加工之后、封装测试环节内,目的是检查芯片的性能是否符合要求,属于电性能的检测。联讯仪器提供晶圆老化及半导体参数测试机等集成解决方案,打破了国外企业的长期垄断,不断提升国产半导体设备的进口替代率。

Details
登录后 立即下载!

账号

密码

注册账号 立即下载!

姓名

请输入您的姓名 *

邮箱地址

请输入您的邮箱地址 *

邮箱验证码

请输入您的邮箱验证码

电话

请输入您的联系电话 *

密码

请输入您的登录密码 *

确认密码

请再次输入您的登录密码 *
找回密码

邮箱地址

请输入您的邮箱号 *

邮箱验证码

请输入您的邮箱验证码

新密码

请输入您的登录密码 *

确认密码

请再次输入您的登录密码 *