S0342C 四通道 PXIe 精密电源/测量单元-苏州联讯仪器股份有限公司

特点

方便扩展
4通道标准PXIe精密电源，易于扩展
大量程
量程：±30 V、±500 mA（直流/脉冲）
高分辨率
最小测量分辨率可达100 pA/100 μV
高采样率
最高可支持500K的ADC采样率

功能与优势

5功能于一身
电压源
电流源
电流表
电压表
电子负载
一、三象限为源：输出V/I的实际极性跟随源设定；
二、四象限为负载：CC和CV配合，当负载用时，负载设定极性与源极性相反；
可测试各种设备
捕获更多的测量数据
♦ 6 位的数字分辨率: 精度相当于6 位数字万用表；
♦ 100 pA/100 uV 分辨率: 极佳的测量灵敏度；
♦ 500K点/秒采样率：提供高速测量，可以快速设置/数字化率于任意波形发生器（列表扫描）；
丰富的扫描功能

电压源指标

电压设置精度	量程	设置分辨率	精度(1 年)±(%读数+ 偏置)	典型噪声(有效值)0.1 Hz-10Hz
	±30 V	1 mV	0.03%+4 mV	1000 μV
	±6 V	200 μV	0.03%+1 mV	100 μV
温度系数	±(0.15 × 精度指标)/°C (0℃-18℃,28℃-50℃)
通道 ¹	CH0 到 CH3
输出功率	单通道最大3W，四通道总功率最大6W
设置时间	<200 μs（典型值）
过冲	<±0.1% (典型值，Normal,步进是范围的 10% 至 90%，满量程点，电阻性负载测试)
噪声 10Hz-20MHz	6 V电压源，0.5 A电阻负载，<3 mVrms

1、所有通道输出与大地电气隔离，但各通道输出共地（LO）

电流源指标

电流设置精度	量程	设置分辨率	精度(1 年)±(% 读数+偏置)	典型噪声(有效值)0.1Hz-10Hz
	±500 mA¹	20 μA	0.05% + 100 μA + Vo*25 μA	10 μA
	±100 mA	4 μA	0.05% + 10 μA+ Vo*5 μA	1 μA
	±10 mA	400 nA	0.05% + 5 μA + Vo*500 nA	100 nA
	±1 mA	40 nA	0.05% + 500 nA + Vo*50 nA	10 nA
	±100 μA	4 nA	0.05% + 50 nA + Vo*5 nA	1 nA
	±10 μA	400 pA	0.05% + 20 nA + Vo*500 pA	150 pA
温度系数	±(0.15 × 精度指标)/°C (0℃-18℃,28℃-50℃)
通道²	CH0 到 CH3
输出功率	单通道最大3 W，四通道总功率最大6 W
设置时间	<300 μs（典型值）
过冲	<±0.1% (典型值，Normal,步进是范围的 10% 至 90%，满量程点，电阻性负载测试)

1、500mA 量程仅支持 6V 电压量程

2、所有通道输出与大地电气隔离，但各通道输出共地（LO）

电压表指标

电压表精度	量程	测量分辨率	精度(1 年)±(%读数+ 偏置)
	±30 V	300 mV	0.03%+4 mV
	±6 V	60 μV	0.03%+1 mV
温度系数	±(0.15 × 精度指标)/°C (0℃-18℃,28℃-50℃)

电流表指标

电流表精度	量程	测量分辨率	精度(1 年)±(% 读数+偏置)
	±500 mA¹	10 μA	0.05% + 100 uA + Vo*25 μA
	±100 mA	1 μA	0.05% + 10 μA + Vo*5 μA
	±10 mA	100 nA	0.05% + 5 μA + Vo*500 nA
	±1 mA	10 nA	0.05% + 500 nA + Vo*50 nA
	±100 μA	1 nA	0.05% + 50 nA + Vo*5 nA
	±10 μA	100 pA	0.05% + 20 nA + Vo*500 pA
温度系数	±(0.15 × 精度指标)/°C (0℃-18℃,28℃-50℃)

1、500mA 量程仅支持 6V 电压量程

I-V 输出能力

输出建立时间

输出	量程	典型输出建立时间			测试条件
输出	量程	Fast^1,2	Normal¹	Slow¹	测试条件
电压源	30 V	<400 μs	<1.5 ms	<2.8 ms	在开路负载条件下，达到距离最终值0.1% 以内所需的时间。步进是范围10% 至 90%。
电压源	6 V	<250 μs	<780 μs	<2.8 ms	在开路负载条件下，达到距离最终值0.1% 以内所需的时间。步进是范围10% 至 90%。
电流源	±500 mA	<50 μs	<330 μs	<2.5 ms	在短路条件下，达到距离最终值 0.1%以内（对于 3 A 范围，为 0.3 %）所需的时间。步进是范围的 10%至 90%
	±100 mA	<50 μs	<270 μs	<2.5 ms
	±10 mA	<50 μs	<270 μs	<2.5 ms
	±1 mA	<50 μs	<290 μs	<2.5 ms
	±100 μA	<150 μs	<5 ms	<2.5 ms
	±10 μA	<250 μs	<3 ms	<2.5 ms

1、输出转换速率：Fast,Normal,Slow。

2、Fast 模式在不同的量程或负载条件下输出可能会出现较大过冲，过冲敏感设备建议用Slow 模式。

采样率及 NPLC 设置

配置方式	配置范围
NPLC	0.0001 PLC ~ 10 PLC
Sampling Rate	5 sps ~ 500 Ksps

测量精度降额（PLC<1）

误差增加量程的百分比

PLC	量程
PLC	6 V 、30 V	10 μA	100 μA 至 100 mA	500 mA
0.1	0.01%	0.03%	0.01%	0.02%
0.01	0.03%	0.06%	0.02%	0.04%
0.001	0.3%	0.4%	0.3%	0.4%

补充特征

传感模式	2 线或 4 线（远程传感）连接
最大传感引线电阻	1 kΩ（额定精度）
远程传感输出端与传感端最大电压	2 V
输出连接器最大输出电压	>满量程 105%
直流浮地电压	±60 V DC
SWEEP 扫描	扫描间隔从20μs至16s可配置，单次扫描最大8K点
自动量程	支持，过冲敏感设备建议切换量程前关闭输出再做量程切换动作
延时测量（SOURCE DELAY）	支持，建议用户设置合适的 SOURCE DELAY 以获得更准确的测量值
过温保护	当检测到内部温度过高时，输出关闭，待温度回到 65 度以下会恢复操作使用
其他输出异常保护	断电重启，可恢复操作或硬件损坏

文档下载

名称

版本

发布时间

下载

Democode

名称

版本

发布时间

下载

同类推荐

光网络测试

光通信网络作为信息通信的基础设施，对我国大数据、云计算、5G通信等市场的快速发展起重要的承载支撑作用，联讯仪器光通讯仪表深度覆盖光模块光器件等核心产品的测试测量，包括采样示波器，误码仪，波长计，光谱仪，流量仪以及通用光测量仪表等，提供经济高效的完整解决方案。

Details

电性能测试

高精度源表集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛应用于各类分立元器件，光伏，新能源，电池等行业的高精度测试测量，联讯仪器提供高精度的台式源表及标准PXIe机箱的插卡式PXIe源表模块，充分满足各种不同测试场景的应用。

Details

光芯片测试

激光器的老化及测试是保障激光器可靠性的重要方法，通过对CoC或者裸Die的测试，提早筛选出激光器生产过程中由于工艺工序的缺陷导致的早期失效产品。联讯仪器提供从裸Die到CoC，从高温到低温-40℃的完整解决方案。联讯仪器的激光芯片老化测试方案已获得市场广泛认可。

Details

功率芯片测试

半导体前道检测主要用于晶圆加工环节，目的是检查每一步制造工艺后晶圆产品的加工参数是否达到设计的要求或者存在影响良率的缺陷，半导体后道测试设备主要是用在晶圆加工之后、封装测试环节内，目的是检查芯片的性能是否符合要求，属于电性能的检测。联讯仪器提供晶圆老化及半导体参数测试机等集成解决方案，打破了国外企业的长期垄断，不断提升国产半导体设备的进口替代率。

Details

Site Map