9月12日，第二十六届中国国际光电博览会（CIOE 2025）在深圳国际会展中心圆满落幕。本届展会汇聚全球光电领域尖端技术与创新成果，展现了前沿科技的无限可能，成为洞察产业风向的最佳窗口。联讯仪器展出多种高端测试解决方案，包括1.6T光模块测试、50G PON测试、多款高性能源表、硅光晶圆测试系统、激光器芯片CoC老化系统等，均获得众多新老客户的深度关注。

01.1.6T与50G PON测试解决方案

联讯仪器推出的1.6T高速测试解决方案成为全场焦点。该解决方案支持800G/1.6T以太网的物理层全面测试，提供完整的高速信号完整性分析、FEC分析和误码率验证能力，可满足下一代数据中心对高速互连技术的测试需求。展会期间，联讯展台始终保持高流量状态，全球各地的客户观众与我们的技术人员在此进行深入探讨。

同期展示的50G PON测试系统同样备受瞩目。随着5G-Advanced和F5.5G技术的快速发展，50G PON作为10G PON的演进技术，对测试测量提出了更高要求。联讯仪器提供的端到端测试解决方案，为设备制造商和运营商提供可靠的技术保障。现场通过实时演示系统性能测试，展示了其在测试精度、系统兼容性和自动化测试方面的卓越性能。

02.硅光晶圆测试与芯片老化系统

联讯仪器的硅光晶圆测试系统引起了业界的广泛关注。该系统针对硅光工艺的特殊性，提供了高精度的光学和电学测试能力，支持晶圆自动上下料，快速实现光耦合，大大提高了测试效率，并有助于提升产品良率。展会期间，许多专业观众与联讯技术团队就DC测试精度、耦合方式和算法、RF测试以及多工艺平台适配等问题进行交流探讨。

CoC老化测试系统作为另一个技术亮点，吸引了众多专业观众的驻足。该系统专为半导体激光器芯片老化测试而设计，支持最多8448路标准电源，热沉温度均匀性偏差≤±1.0℃（40～100℃）。联讯技术团队与超过20位参展观众进行深度洽谈，针对温度控制、测试重复性等问题交换了见解。

03.高精度源表性能展示

展会期间，源表展区陈列了多种不同规格的源表产品，吸引了众多参展观众的关注。联讯技术支持工程师通过演示测量功率器件的IV特性，清晰地展示出S2035H/S2036H等高精度源表在高速采样、低噪声测量等方面的关键指标，尤其是在展会现场的复杂环境下，源表测试的pA级别小电流输出稳定，其突出的性能引发了现场专业观众的浓厚兴趣和热烈讨论。

CIOE 2025已圆满落幕，光通信技术的创新步伐将持续加速。联讯仪器通过此次展会充分展示了在高端光电测试领域的技术实力，尤其在1.6T光模块测试树立起牢固的行业标杆地位，与业界伙伴建立了更加紧密的合作关系。展望未来，公司将继续致力于测试测量技术的创新研发和质量提升，为光通信产业的发展提供坚实支撑。