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智算时代,“芯”启未来—— ICCAD-Expo 2024:联讯仪器半导体测试解决方案备受瞩目
发布日期:2024.12.13 访问量:398


      2024年12月11日至12日,备受瞩目的ICCAD-Expo 2024大会在上海举行。为期两天的活动吸引了国内外有关专家、学者、行业厂商代表等6000余人,共同见证了中国集成电路产业的最新成果和技术创新。有专家深入剖析了芯片设计领域的最新趋势,指出随着人工智能等数字技术的不断革新,算力产业正步入一个前所未有的高速发展期。据中国信息通信研究院测算,预计未来5年全球算力规模将以超过50%的速度增长。全国一体化算力网建设将激活算力产业广阔的市场空间,通用算力、智能算力、先进算力、绿色算力及数据中心建设,将加速形成巨大的增量市场。


01,联讯热门产品



WAT6600

系列通用并行WAT测试机


WAT6600系列最多支持48 通道高性能Perpin SMU与Perpin PGU;系统所配置Perpin SMU输出最大电压±200V,最大电流±1A,最小电流精度1pA,Perpin PGU输出最大电压±20V,可同时满足宽功率范围与微弱电流测试指标;还可依据客户的产品及测试需求,选择不同的配置,实现针对不同产品工艺,产品类型,测试电流、电压级别的适配。






S2036H

双通道精密电源/测量单元


S2036H精密电源/测量单元拥有宽泛的电压源(±200V)和电流源(±1A直流和±3A脉冲)功能,出色的精度,6位半的显示(最低1fA/100nV显示分辨率)以及卓越的彩色LCD图形用户界面(GUI)。




S0342CPXIe模块化源表


基于模拟控环路技术,实现多通道的电压电流输出。符合标准PXIe协议,支持现有主流PXIe机箱,集成度高,支持同步测试。为用户提供同时4个相同通道±30V、±500mA(直流/脉冲)输出,最大采样率500KS/s,最小测量分辨率100 pA/60μV。


02,现场回顾


     展会现场,联讯仪器的各类源表(SMU)引起了众多参展者的关注。其中,超高精度SMU拥有1fA/100nV的分辨率,不仅分辨率惊人,而且拥有出色的性能参数,还具备极低的噪声水平、以及卓越的线性度和稳定性,这些特点共同确保了其在高精度测量领域的卓越表现。联讯仪器结构紧凑、经济高效的PXle插卡式源表系列也备受瞩目,产品采用了PXIe平台技术,实现了高密度、高性能的模块化设计。单卡最多可支持12通道,这一特点使得用户可以更加灵活地配置测试系统,满足多通道测量的需求。此外,多卡同步功能更是为大规模并行测试提供了强有力的支持,极大地提高了测试效率。



      面对部分客户对联讯仪器的WAT6600系列通用并行WAT测试机以及硅光晶圆测试系统所展现出的浓厚兴趣,我们深感荣幸并高度重视这份信任与关注。为此,我们的技术人员在现场详尽地向客户阐述了这些设备的核心性能指标,以期更好地满足客户的测试需求。





     联讯仪器在ICCAD 2024的亮相,全方位展现了公司在技术研发以及市场开拓的综合实力。联讯将继续秉承创新驱动的发展理念,不断追求技术突破。

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