12月11日起，联讯仪器将在两大展会——上海ICCAD-Expo与东京SEMICON Japan上，展示3500V高压源表S3030F、台式200V单/双通道精密源表、封装级可靠性测试设备PLR0010、半导体参数测试WAT系列以及PXIe插卡式高精度精密源表等。参展产品作为支撑半导体测试与可靠性评估的利器, 将带给专业观众全新的测试体验。联讯仪器诚邀您莅临展会现场，共同聚焦半导体技术的最新动态，洞悉测试领域的广阔机遇。

01 ICCAD-Expo 2024

ICCAD-Expo 2024 以“智慧上海，芯动世界”为主题，将深入探讨集成电路产业，特别是集成电路设计业面临的机遇和挑战；此次展会旨在增强中国集成电路产业链的综合能力，满足市场需求并提高国际竞争力。

展会时间：2024年12月11-12日

展会地点：上海世博展览馆

展位号   ：L03

半导体参数测试

联讯仪器 WAT6600 系列最多支持 48通道高性能 Perpin SMU 与 Perpin PGU。系统所配置 Perpin SMU 输出电压范围±200V、电流范围±1A、最小电流精度 1pA；Perpin PGU 输出电压范围±20V，可同时满足宽功率范围与微弱电流测试指标。系统同时支持 8 通道外部仪表接入，可以高效执行精确的直流测量、电容测量，以及其他高频应用 （如环形振荡器测量），闪存测试等。

PXIe源表模块

支持标准的PXIe机箱，方便集成和扩展多通道源表，组建大规模集成化测试系统

集成的4象限源和测量能力

使用单一仪器轻松准确地测量电流和电压

单一SMU产品涵盖高压和大电流源

测量精度高达1pA

快速测量:高达1M ADC采样率/NPLC(0.00005 PLC-10 PLC)

支持常规SCPI命令

封装级可靠性测试设备PLR0010 
             
支持TDDB/HCI/NBTI/EM模式的测试

支持多通道测量技术，可以实现不同测试模式的自动切换

采用了Micro Oven架构，高达4个温区，每个Oven可以实现独立控温，温度高达250℃

并测数高达960 DUTs

02  SEMICON Japan 2024

SEMICON Japan 是半导体制造供应链的顶级盛会， 今年展会将重点展示由半导体技术驱动的智能应用，如汽车和物联网 (IoT)。

展会时间：2024年12月11-13日

展会地点：东京国际展览中心

展位号   ：6231

3500V 高压源表 S3030F

高压、高功率输出的台式电源/测量单元(SMU)，能够提供最大±3500V、±120mA（直流）、180W功率输出，10GΩ电阻测量范围。支持多机同步测试，广泛地应用在功率半导体特性、GaN、SiC表征、复合材料，高压漏电流等测试和研究领域，最低测量分辨率10fA/100nV。

200V 双通道精密源表 S2036H

S2036H基于数字控环路技术，实现更高的电压电流精度，支持多机同步测试。为用户提供±200V、±1A（直流）、±3A（脉冲）、20W恒定功率输出，最大采样率1MS/s，最小测量分辨率1fA/100nV。

200V 单通道精密源表 S3012H

S3012H是结构紧凑、经济高效的台式精密源表(SMU)，能够同时输出并测量电压和电流，提供更高的输出能力和更高的精度，支持多机同步测试。为用户提供±200V、±3A（直流）、±10A（脉冲）、最大30W功率输出、最大采样率1MS/s，最小测量分辨率100fA/100nV。

半导体技术，作为现代科技的基石与核心动力，正以前所未有的速度和广度，深刻地改变着世界，引领着全球科技向智能化、高效化、便捷化的方向迈进。联讯仪器将继续保持对市场的敏锐洞察，不断创新和升级产品，为全球客户提供更加优质、高效的半导体测试仪器设备和服务。