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探测器老化和测试

BI4201-PD APD TO老化系统能够提供高温条件的下APD/PIN带电老化系统。同时兼容APD TO和PIN TO的老化模式，广泛用于APD/PIN TO的生产老化环节以及产品可靠性测试。 TO6201-PD 是专门针对APD TO-CAN封装器件常温和高温性能的测试机。
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